Avaliação da espessura e da condutividade elétrica dos filmes finos de polianilina em função da temperatura de síntese utilizando as técnicas de microscopia de força atômica (AFM) e de quatro pontas.
Avaliação da espessura e da condutividade elétrica dos filmes finos de polianilina em função da temperatura de síntese utilizando as técnicas de microscopia de força atômica (AFM) e de quatro pontas.
Author(s): PASCHOALIN, R. T.; MANZOLI, A.; STEFFENS, C.; ALVES, W. F.; HERRMANN, P. S. de P.
Publication year: 2009
Types of publication: Paper in annals and proceedings
Unit: Embrapa Instrumentation
Keywords: CONGRESSO
Observation
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