Desenvolvimento de sistema capaz de monitorar temperatura e umidade relativa em câmara de microscópio de força atômica.
Desenvolvimento de sistema capaz de monitorar temperatura e umidade relativa em câmara de microscópio de força atômica.
Autoria: SANDOVAL, R. D.; STEFFENS, C.; VENDRAMINI, G.; HERRMANN, P. S. P.
Ano de publicação: 2012
Tipo de publicação: Artigo em anais e proceedings
Unidade: Embrapa Instrumentação
Palavras-chave: Microcontrolador, Microscopia de força atômica (AFM), PIC, Temperatura, Umidade
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